性能指标符合以下标准:
GB/T 2423.22-2012 环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验 N: 温度变化;
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第 2 部分: 试验方法 试验 B: 高温。
4.1.14 设备需支持 SECS/GEM 协议
4.1.15 MTBA (平均故障间隔周期)
|
高低温SATA老化柜,高低温SATA试验箱,高低温SATA箱,SATA环境试验箱,SATA测试设备 SSD专用高低温试验箱,SSD测试箱,SSD试验机,SSD高温检测箱,SSD恒温恒湿箱 |
微信号